Platina Universal e técnica de elétrons retroespalhados difratados como métodos complementares

Cristiane Paula de Castro Gonçalves, Leonardo Evangelista Lagoeiro

Resumo


Nos últimos anos, o uso de microscopia eletrônica para análise textural de agregados minerais, por difração de elétrons retroespalhados (EBSD), tem se tornado importante meio para se determinar padrões de orientações preferenciais de maneira rápida e estatisticamente representativa. Entretanto, ao se considerar a geometria de borda dos grãos, não há como determinar a orientação das superfícies de borda, individualmente, por EBSD, o que se pode fazer através de platina universal acoplada a um microscópio ótico. A geometria e padrão de orientação das bordas dos grãos constituem importantes parâmetros microestrutural e textural que estão diretamente relacionados aos processos deformacionais ocorridos durante evolução e estabilização de determinado agregado, bem como às suas propriedades físicas. Portanto, ao se caracterizar a microtrama de um agregado é necessário que além de uma completa determinação das orientações cristalográficas preferenciais, se tenha controle da geometria e orientação dos segmentos de borda que limitam os grãos. Para tal, o uso da platina universal, apesar das restrições, é fundamental, já que permite a determinação das orientações das superfícies de borda individualmente, enquanto por EBSD tem-se uma análise global da relação de desorientação entre os grãos que compartilham uma borda. Nesse contexto, apresenta-se a metodologia para caracterização de padrões de orientação de bordas, aplicando os referidos métodos como técnicas complementares, o que permite a caracterização dos 5 graus de liberdade necessários: orientação do plano de borda, distribuição e orientação do par eixo-ângulo de desorientação. Para tal foram utilizados agregados de quartzo provenientes de formações ferríferas bandadas do Quadrilátero Ferrífero (MG)

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